定位掩膜特征点 您正在查看预发布版本(V2.2.0)的文档。如果您想查阅其他版本的文档,可以点击页面右上角“切换版本”按钮进行切换。 ■ 如果您不确定当前使用的产品是哪个版本,请随时联系梅卡曼德技术支持。 功能描述 该步骤用于定位掩膜的特征点。 使用场景 该步骤主要用于在掩膜图像中快速获取目标区域的代表性中心点,常见于尺寸测量场景。 参数说明 参数 解释 特征点类型 选择特征点的类型。 质心:以掩膜区域内所有像素坐标的平均值作为特征点,即区域的几何中心。适用于目标区域完整、分布均匀的场景。 外接矩形中心:以包裹掩膜区域的水平外接矩形的中心点作为特征点。适用于目标大致呈矩形且无明显旋转的场景。 最小外接矩形中心:以能完全包裹掩膜区域的面积最小的旋转矩形的中心点作为特征点。适用于目标存在旋转或倾斜的场景。 该页面是否有帮助? 我要反馈 感谢您的支持! 可以通过以下方式反馈意见: 社区 反馈表单 检测并拟合腰型孔 创建点(2D)