测量点到基准线高度差

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此步骤用来计算点到基准线的高度差。

在开始了解此步骤之前,请先查阅 开始使用测量模式 中的内容。

应用示例

measure height differences points to baseline application sample

组合 读取点云V2正交投影测量点到基准线高度差 三个步骤,来完成基准线的高度差测量。

步骤连线:

  1. 单击 正交投影 ,在步骤输入端口选择窗口, 将 “输入1(带法向点云)” 的下拉栏设置为 “读取点云_1_带法向点云” 。

  2. 单击 测量点到基准线高度差 ,在步骤输入端口选择窗口 ,将 “输入1(可视化背景)” 的下拉栏设置为 “正交投影_1_深度图”。

参数设置:

  • 读取点云V2 设置: 单击此步骤,在步骤参数窗口中设置待测量物体的点云文件路径等参数(用户需准备待测量物体的点云)。完成设置后,单击运行来运行工程。

  • 测量点到基准线高度差 设置: 基准线设置:基准线初始位置位于画板图像左上角,移动并调整基准线到用户自定义位置。

measure height differences points to baseline base line

步骤参数窗口中,可以微调基准线的位置,如下图:

measure height differences points to baseline base line move

检测点设置:单击+按钮来添加检测点,可添加一个或多个点,如下图:

measure height differences points to baseline add point

添加后的检测点位于画板图像的左上方,移动检测点到用户自定义位置,如下图:

measure height differences points to baseline move point

步骤参数窗口中,可以微调检测点的位置,如下图:

measure height differences points to baseline move point parameter

结果查看:

测量结果输出窗口中,将显示点到基线的高度差,如下图:

measure height differences points to baseline measure result

若添加多个检测点,将有多个测量结果。

用户可以在测量结果输出窗口,或结果视图中设置上、下限值,来查看测量值是否合格。

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