测量轮廓线高度
使用流程
参数说明
- 特征区域
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参数解释:设置特征区域(1~16个),以定位轮廓线上的特征点。
- 参考线
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参数解释:勾选时,使用设置的参考线区域内数据拟合出一条参考直线。
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参考线区域(1~2个):在轮廓线上设置区域,使用区域内的数据点拟合参考线。
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拟合方法:使用设定的参考区域拟合参考线的方法,可选择简单或鲁棒。
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简单:快速拟合直线的方法,拟合的直线大致准确。
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鲁棒:迭代式拟合直线的方法,拟合的直线较准确,但耗时长。
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离群点百分比:直线拟合过程中要移除的离群点比例,通常可以根据轮廓线中的离群点比例来设置此参数,以达到更好的直线拟合效果。
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- 使用基准点
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参数解释:通过设置基准点区域来定位一个基准点,辅助测量特征点高度。
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设置基准点区域:通过调整基准点区域的中心坐标X/Z、宽度、高度来设置基准点区域。
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特征点类型:在基准点区域内,选择一类特征点作为基准点。查看特征点类型说明,了解特征点类型。
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高度测量方式
测量特征点高度的方式有四种,不同方式下特征点高度的计算方式如下,可根据实际测量需求进行选择。
- 只设置特征区域
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可设置 1~16 个特征区域,一次性测量 1~16 个特征点的高度。此时,以Z=0的直线为基准线,计算特征点到该基准线的距离作为特征点高度。点在直线上方高度为正,点在直线下方高度为负。
- 设置特征区域 + 参考线
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计算特征点到参考线的距离作为特征点高度。点在直线上方则高度为正,点在直线下方则高度为负。
- 设置特征区域 + 使用基准点
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过基准点作一条平行于X轴的基准线,计算特征点到该直线的距离。点在直线上方则高度为正,在直线下方则高度为负。
此时,基准点高度为基准点到Z=0直线的距离。
- 设置特征区域 + 参考线 + 使用基准点
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过基准点作一条平行于参考线的直线,计算特征点到该直线的距离。点在直线上方则高度为正,点在直线下方则高度为负。
此时,基准点高度为基准点到参考线的距离,点在直线上方则高度为正,点在直线下方则高度为负。
输出说明
勾选输出项后,步骤将增加对应的输出端口,步骤运行后将输出对应的数据。可根据实际测量需求选择对应的输出项。
如果输出项可展开(左侧有 ▶),则勾选后必须展开,然后设置最小值和最大值来确定该项的合格范围。如果输出的值在合格范围内,该测量项被判定为合格(OK),否则被判定为不合格(NG)。 |
输出项 | 说明 |
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特征点高度 |
特征点与参考线或特征点与基准点之间的高度差。特征点在参考线或基准点上方高度为正,特征点在参考线或基准点下方高度为负。 未设置参考线和基准点时,特征点高度为特征点到Z=0直线的距离。 |
基准点高度 |
未设置参考线时,基准点高度为基准点到Z=0直线的距离。 设置了参考线时,基准点高度为基准点到参考线的距离。点在直线上方则高度为正,点在直线下方则高度为负。 |
常见故障处理
无效参数
序号 | 错误 | 可能原因 | 解决方案 |
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1 |
设置的百分位错误 |
百分位未在0~100%范围内,或低百分位大于高百分位。 |
重新设置百分位,确保百分位在0~100%范围内,且低百分位小于高百分位。 |
2 |
设置的“离群点百分比”不合理 |
“离群点百分比”未在0~100%范围内。 |
重新调整“离群点百分比”,确保其在0~100%范围内。 |
3 |
设置的“索引”值大于转折点数量 |
- |
重新调整“索引”值,确保其不大于转折点数量。 |
无效特征区域
序号 | 错误 | 错误说明 | 可能原因 | 解决方案 |
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1 |
特征区域2内点的数量不足 |
特征点类型为“接触点”时,特征区域2内点的数量不足,导致拟合圆失败。 |
特征区域2内点的数量小于3,无法拟合圆。 |
重新调整特征区域2,确保特征区域2内点的数量大于等于3。 |
2 |
未检测到接触点 |
特征点类型为“接触点”时,未检测到有效接触点。 |
拟合的直线和圆相离。 |
重新调整特征区域,确保拟合出的直线与圆能够相交或相切。 |
3 |
特征区域2内点的数量不足 |
特征点类型为“拟合线交点”时,特征区域2内点的数量不足,导致拟合直线失败。 |
特征区域2内点的数量小于2,无法拟合出直线。 |
重新调整特征区域2,确保特征区域2内点的数量大于等于2。 |
4 |
未检测到拟合线交点 |
特征点类型为“拟合线交点”时,未检测到直线相交点。 |
拟合的两条直线平行。 |
重新调整特征区域位置,确保拟合出的两条直线能够相交。 |
5 |
未检测到转折点 |
- |
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6 |
参考线区域内点的数量不足 |
勾选“参考线”选项后,设置的参考线区域内点的数量不足。 |
参考线区域内点的数量小于2,无法拟合出直线。 |
调整参考线区域,确保区域内点的数量大于或等于2。 |