표면 변환
사용 시나리오
이 스텝이 자주 사용되는 두 가지 시나리오는 검사 표면 수평 조정과 데이터 정렬입니다.
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검사 표면 수평 조정
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설명 : 기울어진 검사 표면을 수평 위치로 조정하여 XOY 평면과 평행하게 만듭니다.
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주요 사용 사례 : 측정 과정에서 데이터 포인트의 뎁스 값을 기준으로 필터링을 수행할 때, 검사 표면을 수평 위치로 조정해야 합니다.
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변환 방법 : 평면
Before (윗면이 기울어짐)
After (변환된 데이터)
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데이터 정렬
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설명 : 다양한 물체에 대해, 모든 이미지에서 물체의 위치가 동일하게 유지되도록 보장합니다.
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주요 사용 사례 : 물체가 지정된 위치에 있어야 하며, 점, 선, 면의 특징을 안정적이고 정확하게 포착할 수 있을 때 데이터 정렬을 수행합니다.
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변환 방법 : 평면 + 직선 + 점
Before
After
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표면 변환 방법
스텝에 입력된 기하학적 특징(점, 선, 평면)은 표면 데이터의 좌표계를 변환하는 방법을 결정합니다.
현재 지원되는 입력 조합은 다음과 같습니다.
| 스텝에 기하학적 특징이 입력되지 않으면 표면 데이터는 파라미터 패널의 설정에 따라 변환됩니다. |
평면
입력 패널에서 평면 특징만 입력하며, 선 및 점 항목은 비워 둡니다.
변환된 표면 데이터가 있는 좌표계는 다음과 같습니다.
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XOY 평면 : 입력한 평면입니다.
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X축 : 새로운 X축은 원래 X축과 평행합니다.
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원점 : 기존 좌표계의 원점이 입력된 평면에 투영되며, 이 투영된 점이 새로운 좌표계의 원점이 됩니다.
선
입력 패널에서 선 특징만 입력하며, 평면 및 점 항목은 비워 둡니다.
변환된 표면 데이터가 있는 좌표계는 다음과 같습니다.
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XOY 평면 : 입력된 선과 기존 XOY 평면의 법선 벡터의 외적을 사용해 새 좌표계의 Y축을 정의하며, 이 Y축과 입력된 선으로 새로운 XOY 평면이 형성됩니다.
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X축 : 입력된 직선입니다.
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원점 : 기존 좌표계의 원점이 입력된 선에 투영되며, 이 투영된 점이 새로운 좌표계의 원점이 됩니다.
점
입력 패널에서 점 특징만 입력하며, 평면 및 직선 항목은 비워 둡니다.
변환된 표면 데이터가 있는 좌표계는 다음과 같습니다.
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XOY 평면 : 입력한 점을 통과하는 새로운 XOY 평면은 원래 XOY 평면과 평행합니다.
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X축 : 새로운 X축은 원래 X축과 평행합니다.
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원점 : 입력한 점입니다.
평면 + 선
입력 패널에서 평면과 선 특징을 입력하며, 점 항목은 비워 둡니다.
변환된 표면 데이터가 있는 좌표계는 다음과 같습니다.
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XOY 평면 : 입력한 평면입니다.
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X축 : 입력한 선을 입력한 평면에 투영하여 생성된 선이 새로운 좌표계의 X축이 됩니다.
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원점 : 기존 좌표계의 원점을 X축(투영된 선)에 투영한 점이, 새로운 좌표계의 원점으로 설정됩니다.
평면 + 점
입력 패널에서 평면과 점 특징을 입력하며, 선 항목은 비워 둡니다.
변환된 표면 데이터가 있는 좌표계는 다음과 같습니다.
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XOY 평면 : 입력한 평면입니다.
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X축 : 새로운 X축은 원래 X축과 평행합니다.
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원점 : 입력된 점이 입력된 평면에 투영되며, 이 투영된 점이 새로운 좌표계의 원점이 됩니다.
사용방법
파라미터
| 파라미터 | 설명 | ||
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특징 영역 사용 |
이 파라미터를 선택하면, 특징 영역을 설정하여 해당 스텝에서 사용할 표면 데이터를 제한해야 합니다. 특징 영역을 조정하는 방법은 특징 영역을 통해 확인 가능합니다. 이 파라미터를 선택하지 않으면 스텝은 전체 표면 데이터를 사용합니다. |
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고정 변환 추가 |
이 파라미터를 선택하면 고정 변환이 추가됩니다. 스텝에 입력된 기하학적 특징에 따라 표면 데이터가 새로운 좌표계로 변환된 후, 추가적인 고정 변환을 적용할 수 있습니다. 고정 변환 파라미터에 대한 설명은 다음과 같습니다.
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해상도 모드 |
이 파라미터를 사용하여 변환된 표면의 X축과 Y축 해상도를 1:1 비율로 조정할지 여부를 결정합니다. 다음 모드 중 하나를 선택할 수 있습니다.
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오류 분석
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