SPC 분석 수행
이 섹션에서는 Mech-Metrics에서 SPC 개요 및 SPC 분석 기능을 사용하는 방법을 설명합니다.
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SPC 개요 및 SPC 분석 기능을 사용하기 전에 다음 작업을 완료해야 합니다:
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소프트웨어 상단의 기능 패널에서 를 선택합니다.
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데이터 필터링 탭에서 데이터 필터링을 완료하고 측정 기록을 선택합니다. 자세한 내용은 이력 데이터 필터링, 확인 및 내보내기를 참조하십시오.
SPC 개요
페이지 상단의 SPC 개요 탭을 클릭하면 각 특징의 SPC 통계 개요 정보를 확인할 수 있습니다.
SPC 개요 페이지 상단에는 다음과 같은 요약 정보가 표시됩니다:
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합격 수: 규격 요구 사항을 충족하는 특징의 수입니다.
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합격률: 합격 특징이 총 특징 수에서 차지하는 백분율입니다.
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결함 수: 규격 요구 사항을 충족하지 않는 특징의 수입니다.
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불합격률: 불합격 특징이 총 특징 수에서 차지하는 백분율입니다.
SPC 개요의 데이터 표는 각 측정 항목의 다음 통계 정보를 보여줍니다:
| 열 이름 | 설명 |
|---|---|
항목 |
특징 이름(예: Y4 기준, Y2 기준, 측정 지점 A1 등). |
측정 하위 항목 |
측정 하위 항목 이름(예: X, Y, Z, 반경 등). |
수량 |
해당 측정 항목의 샘플 수량. |
평균값 |
해당 측정 항목의 평균값. |
Pp |
공정 성능 지수, 공정 성능이 규격 요구 사항을 충족하는지 평가하는 데 사용됩니다. |
Ppk |
중심 성능 지수, Pp를 기반으로 공정 평균의 편차를 고려합니다. |
극차 |
데이터의 극차 값(최대값과 최소값의 차이). |
3σ |
3배 표준 편차 값. |
최댓값 |
해당 측정 항목의 최댓값. |
최솟값 |
해당 측정 항목의 최솟값. |
합격수 |
해당 측정 항목의 합격 샘플 수량. |
합격률 |
해당 측정 항목의 합격 백분율. |
불합격수 |
해당 측정 항목의 불합격 샘플 수량. |
불합격률 |
해당 측정 항목의 불합격 백분율입니다. |
페이지 오른쪽 상단의 내보내기 버튼을 클릭하면 SPC 개요 데이터를 내보낼 수 있습니다.
SPC 분석
페이지 상단의 SPC 분석 탭을 클릭합니다. SPC 분석 페이지에는 샘플링 도구, 측정 항목 리스트 및 샘플링 결과 표가 표시됩니다.
SPC 분석 수행
SPC 분석을 수행하려면 다음 단계를 따르십시오:
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샘플링 도구 영역에서 필요에 따라 다음 파라미터를 설정합니다:
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샘플링 모드: 샘플링 모드를 선택합니다. 선택할 수 있는 옵션은 고정 간격 샘플링, 연속 샘플링 또는 날짜별 연속 샘플링입니다.
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부분군 크기: 각 부분군에 포함될 샘플 수를 설정합니다.
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샘플링 빈도: 샘플링의 시간 간격을 설정합니다.
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부분군 수량: 부분군의 수를 설정합니다.
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첫 번째 샘플링 기록: 시작 샘플 데이터의 번호를 설정합니다.
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페이지 왼쪽의 측정 항목 리스트에서 분석할 측정 항목을 선택합니다. 리스트에는 현재 대상 물체에서 사용 가능한 모든 측정 항목(예: Datum Y4, Datum Y2, Datum Y1, 측정 지점 A1~A5 등)이 표시되며, 각 측정 항목 아래에서 구체적인 측정 하위 항목(예: X, Y, Z, Radius)을 선택할 수 있습니다.
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페이지 오른쪽의 샘플링 결과 표에는 선택한 측정 항목의 샘플 데이터가 표시되며, 각 부분군 번호와 해당 측정값, 그리고 다음 통계값이 포함됩니다:
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ΣX: 각 열 데이터의 합계입니다.
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X̄: 각 열 데이터의 평균값입니다.
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R: 각 열 데이터의 극차 값(최대값과 최소값의 차이)입니다.
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페이지 하단의 분석 버튼을 클릭하여 SPC 분석을 수행합니다. 분석이 완료되면 페이지에 분석 결과가 표시됩니다.
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샘플링 도구의 파라미터 설정을 재설정하려면 재설정 버튼을 클릭하십시오.
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분석할 수 없는 경우 소프트웨어의 오류 메시지를 참조하여 문제를 해결하십시오.
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샘플링 설정 페이지로 돌아가려면 페이지 왼쪽 상단의 이전을 클릭하십시오.
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분석 결과
분석 결과 페이지에는 다음 영역이 포함됩니다:
| 번호 | 영역 | 설명 |
|---|---|---|
① |
USL, CL, LSL, Cp, Cpk, Pp, Ppk 등 주요 SPC 지표를 표시합니다. |
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② |
X̄(평균값) 및 R(극차)에 해당하는 관리 한계 데이터를 표시합니다. |
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③ |
부분군 번호를 가로축으로, X̄ 평균값을 세로축으로 하는 관리도를 사용하여 공정 평균의 변화 추세를 모니터링합니다. |
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④ |
부분군 번호를 가로축으로, 극차®를 세로축으로 하는 관리도로, 공정 변동의 변화 추세를 모니터링하는 데 사용됩니다. |
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⑤ |
현재 측정 항목의 통계 정보를 표시하며, 총 관측 수, 최대값, 최소값, 구간 수 및 구간 너비를 포함합니다. |
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⑥ |
측정 데이터의 빈도 분포를 막대 그래프로 표시하고 정규 분포 곡선을 겹쳐 데이터의 분포 상태와 공정 능력을 직관적으로 반영합니다. |
지표 열
페이지 상단에는 현재 측정 항목의 주요 SPC 지표가 표시됩니다.
| 지표 | 설명 |
|---|---|
USL |
상한 규격 한계(Upper Specification Limit), 즉 명목값에 공차 상한을 더한 값입니다. |
CL |
중심선(Central Line), 즉 데이터의 평균값입니다. |
LSL |
하한 규격 한계(Lower Specification Limit), 즉 명목값에 공차 하한을 더한 값입니다. |
Cp |
공정 능력 지수(Process Capability), 공정 능력이 규격 요구 사항을 충족하는지 평가하는 데 사용됩니다. 여기서 σ는 전체 표준 편차를 나타냅니다. |
Cpk |
중심 능력 지수(Process Capability Index), Cp를 기반으로 공정 평균의 편차를 고려합니다. 여기서 x̄는 전체 평균값을, σ는 전체 표준 편차를 나타냅니다. |
Pp |
공정 성능 지수(Process Performance), 공정 성능이 규격 요구 사항을 충족하는지 평가하는 데 사용됩니다. 여기서 s는 샘플 표준 편차를 나타냅니다. |
Ppk |
중심 성능 지수(Process Performance Index), Pp를 기반으로 공정 평균의 편차를 고려합니다. 여기서 x̄는 샘플 평균값을, s는 샘플 표준 편차를 나타냅니다. |
관리 한계 데이터 표
X̄(평균값) 및 R(극차)에 해당하는 관리 한계 데이터를 표시합니다.
| 열 이름 | 설명 |
|---|---|
평균 |
X̄ 또는 R의 평균값입니다. |
관리 한계 |
관리 한계 값입니다. |
상한 관리 한계/UCL |
상한 관리 한계(Upper Control Limit), 즉 평균값에 3σ를 더한 값입니다. |
중심선/CL |
중심선(Central Line), 즉 평균값입니다. |
하한 관리 한계/LCL |
하한 관리 한계(Lower Control Limit), 즉 평균값에서 3σ를 뺀 값입니다. |
X-바 차트
부분군 번호를 가로축으로, X̄ 평균값을 세로축으로 하는 관리도로, 공정 평균의 변화 추세를 모니터링하는 데 사용됩니다.
그림에는 다음 기준선이 포함됩니다:
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CL(노란색 선): 중심선, 즉 평균값입니다.
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UCL & LCL(빨간색 선): 상한 관리 한계와 하한 관리 한계입니다.
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USL & LSL(파란색 선): 상한 규격 한계와 하한 규격 한계입니다.
R 차트
부분군 번호를 가로축으로, 극차®를 세로축으로 하는 관리도로, 공정 변동의 변화 추세를 모니터링하는 데 사용됩니다.
그림에는 다음 기준선이 포함됩니다:
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CL(노란색 선): 중심선입니다.
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UCL & LCL(빨간색 선): 상한 관리 한계와 하한 관리 한계입니다.
통계 정보
페이지 오른쪽 상단에 현재 측정 항목의 통계 정보가 표시됩니다.
| 파라미터 | 설명 |
|---|---|
총 관측치 |
분석에 참여한 샘플의 총 수입니다. |
최댓값 |
모든 샘플 중 최대 측정값입니다. |
최솟값 |
모든 샘플 중 최소 측정값입니다. |
범위 개수 |
공정능력 분석 차트에서의 빈도 분포 구간 수입니다. |
구간 폭 |
각 빈도 분포 구간의 너비입니다. |
