SPC分析の実行
本節では、Mech-Metrics で SPC概要 および SPC分析 を使用する方法について説明します。
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SPC概要 および SPC分析 を使用する前に、あらかじめ以下の操作を完了する必要があります。
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ソフトウェア上部の機能エリアで、を選択します。
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データフィルタリングタブでデータフィルタリングを完了し、測定履歴を選択します。詳細については、履歴データのフィルタリング・表示・エクスポートご参照ください。
SPC概要
画面上部のSPC概要タブをクリックすると、各特徴のSPC統計概要情報を確認できます。
SPCの概要タブの上部には、以下の集計情報が表示されます。
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合格数：仕様要件を満たす特徴の数
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合格率：総特徴数に対する合格特徴の割合
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欠陥数：仕様要件を満たさない特徴の数
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不合格率：総特徴数に対する不合格特徴の割合
SPC概要のデータテーブルには、各測定項目の以下の統計情報が表示されます。
| 列名 | 説明 |
|---|---|
項目 |
特徴名称（例：Datum Y4、A1など） |
測定サブ項目 |
測定サブ項目の名称（X、Y、Zなど） |
個数 |
該当する測定項目のサンプル数量 |
平均値 |
該当する測定項目の平均値 |
Pp |
工程性能指数。工程性能が仕様要件を満たしているかどうかを評価する |
Ppk |
工程性能指数。Ppを基に、工程平均の偏りを考慮したもの |
範囲 |
データの範囲（最大値と最小値の差） |
3σ |
3倍標準偏差値 |
最大値 |
該当する測定項目の最大測定値 |
最小値 |
該当する測定項目の最小測定値 |
合格数 |
該当する測定項目の合格サンプル数量 |
合格率 |
該当する測定項目の合格率 |
不合格数 |
該当する測定項目の不合格サンプル数量 |
不合格率 |
該当する測定項目の不合格率 |
画面の右上にあるエクスポートボタンをクリックすると、SPC概要データをエクスポートできます。
SPC分析
画面上部のSPC分析タブをクリックします。SPC分析画面には、サンプリングツール、測定項目リスト、サンプリング結果テーブルが表示されます。
SPC分析を実施する
以下の手順に従って、SPC分析を実施してください。
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サンプリングツールエリアで、必要に応じて以下のパラメータを設定します。
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サンプリングモード：サンプリングモードを選択します。間隔サンプリング、連続サンプリング、または日付による連続サンプリングから選択できます。
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サブグループサイズ：各サブグループに含まれるサンプル数量を設定します。
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サンプリング頻度：サンプリングの時間間隔を設定します。
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サブグループ数：サブグループの数量を設定します。
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最初サンプリングデータ：サンプリングを開始するデータの番号を設定します。
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画面の左側にある測定項目リストから、分析する測定項目を選択します。リストには現在のワークのすべての利用可能な測定項目（Datum Y4、A1～5など）が表示されており、各測定項目の下を展開して具体的な測定サブ項目（X、Y、Zなど）を選択できます。
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画面の右側にあるサンプリング結果テーブルには、選択した測定項目のサンプリングデータ（各サブグループ番号と対応する測定値を含む）および以下の統計値が表示されます。
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ΣX：各列データの合計値
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X̄：各列データの平均値
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R：各列データの範囲（最大値と最小値の差）
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画面の下部にある分析ボタンをクリックしてSPC分析を実行します。分析が完了すると、画面に分析結果が表示されます。
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サンプリングツールの設定をリセットするには、リセットボタンをクリックします。
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分析できない場合は、ソフトウェアのエラーメッセージを参照して原因を特定してください。
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サンプリング設定画面に戻るには、画面左上の戻るをクリックします。
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分析結果
分析結果画面には、以下のエリアが含まれています。
| 番号 | エリア | 説明 |
|---|---|---|
① |
USL、CL、LSL、Cp、Cpk、Pp、Ppk などの主要なSPC指数を表示する |
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② |
X̄（平均値）と R（範囲）に対応する管理限界データを表示する |
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③ |
サブグループ番号を横軸、X̄ 平均値を縦軸とする管理図で、工程平均値の変動傾向を監視する |
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④ |
サブグループ番号を横軸、範囲（R）を縦軸とする管理図で、工程のばらつきの変動傾向を監視する |
|
⑤ |
総観測数、最大値、最小値、区間数、区間幅を含む、現在の測定項目の統計情報を表示する |
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⑥ |
測定データの頻度を棒グラフで表示し、正規分布曲線を重ね合わせることで、データの分布状態と工程能力を可視化する |
指数欄
画面上部に現在の測定項目の主要なSPC指数を表示します。
| 指数 | 説明 |
|---|---|
USL |
規格上限（Upper Specification Limit）。公称値に公差上限を加えた値 |
CL |
中心線（Central Line）。データの平均値 |
LSL |
規格下限（Lower Specification Limit）。公称値に公差下限を加えた値 |
Cp |
工程能力指数（Process Capability）。工程能力が仕様要件を満たしているかを評価する。ここで、σ は全体標準偏差を表す |
Cpk |
技術的工程能力指数（Process Capability Index）。Cpを基に、工程平均の偏りを考慮したもの。ここで、x̄ は全体平均値を、σ は全体標準偏差を表す |
Pp |
工程性能指標（Process Performance）。工程性能が仕様要件を満たしているかを評価する。ここで、s サンプル標準偏差を表す |
Ppk |
統計的工程性能指数（Process Performance Index）。Ppを基に、工程平均の偏りを考慮したもの。ここで、x̄ はサンプル平均値を、s はサンプル標準偏差を表す |
管理限界データテーブル
X̄（平均値）と R（範囲）に対応する管理限界データを表示する
| 列名 | 説明 |
|---|---|
平均値 |
X̄ または R の平均値 |
管理限界 |
管理限界値 |
上方管理限界/UCL |
上方管理限界（Upper Control Limit）。平均値に3σを加えた値 |
中心線/CL |
中心線（Central Line）。平均値 |
下方管理限界／LCL |
下方管理限界（Lower Control Limit）。平均値から3σを引いた値 |
X管理図
サブグループ番号を横軸、X̄ 平均値を縦軸とする管理図で、工程平均値の変動傾向を監視するために使用します。
図には以下の補助線が含まれています。
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CL（黄色の線）：中心線、すなわち平均値
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UCL & LCL（赤色の線）：上方管理限界・下方管理限界
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USL & LSL（青色の線）：規格上限・規格下限
R管理図
サブグループ番号を横軸、範囲（R）を縦軸とする管理図で、工程のばらつきの変動傾向を監視するために使用します。
図には以下の補助線が含まれています。
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CL（黄色の線）：中心線
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UCL & LCL（赤色の線）：上方管理限界・下方管理限界
統計情報
画面右上に現在の測定項目の統計情報が表示されます。
| パラメータ | 説明 |
|---|---|
総観測数 |
分析対象となったサンプルの総数 |
最大値 |
すべてのサンプルにおける最大測定値 |
最小値 |
すべてのサンプルにおける最小測定値 |
区間数 |
能力分析チャートにおける頻度分布区間の数 |
区間幅 |
各頻度分布区間の幅 |
