扫描模式

本章介绍扫描模式下的参数。

触发设置

选择触发源并设置相关参数。

关于扫描模式下触发轮廓测量仪采集数据的方式，请参考触发数据采集的方式和触发数据采集的流程。

数据采集触发源

参数说明

选择触发数据采集的信号来源。一轮数据采集将扫描多行数据，生成多条轮廓线，并使用轮廓线数据生成一张强度图和深度图。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • 外部触发

  • 软触发（默认值）

调节说明

需由外部输入信号触发数据采集时，请选择外部触发。否则，请选择软触发。

行扫描触发源

参数说明

选择触发扫描一行数据的信号来源。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • 编码器（默认值）

  • 固定频率

调节说明

  • 需由编码器触发扫描时，请选择编码器。

  • 需按固定频率触发扫描时，请选择固定频率。

请根据所用的触发方式组合设置数据采集触发源和行扫描触发源。

选择不同选项后，触发设置分组中将显示不同的参数供调节：

编码器设置

行扫描触发源设置为编码器时，需调节该分组下的参数。

单击编辑按钮，可打开编码器设置工具。可在该工具中查看编码器值和运动方向、计算编码器分辨率。

如需扫描数据的Y轴分辨率与X轴分辨率一致，也可通过该工具获取推荐的触发间隔值。

触发方向

参数说明

选择触发扫描的编码器运动方向。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • A相在前：编码器的A相信号在前时，触发扫描。

    leading a

  • B相在前：编码器的B相信号在前时，触发扫描。

    leading b

  • 双向（默认值）：编码器A相信号或B相信号在前时，均触发扫描。

调节说明

根据编码器运动方向和目标物体相对轮廓测量仪的移动方向调节。

可在编码器设置工具中查看编码器运动方向。

触发信号计数模式

参数说明

设置每个编码器信号周期中计数的信号个数。计数的信号用于触发扫描（即触发信号）。

编码器每个信号周期中包含4个信号，如下图所示。

encoder period

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • 1×（默认值）：每个信号周期有1个信号进行计数。

  • 2×：每个信号周期有2个信号进行计数。

  • 4×：每个信号周期有4个信号进行计数。

调节说明

  • 该参数与触发间隔共同决定触发扫描的频率。如触发扫描的频率大于轮廓测量仪的最大扫描速率，将导致部分数据丢失。请参考部分数据丢失解决该问题。

    在数据查看区右上角可确认轮廓测量仪当前的最大扫描速率。

  • 该参数与触发间隔共同决定扫描数据的Y轴分辨率，进而影响扫描精度及强度图和深度图中目标物体的宽高比。详见扫描数据的Y轴分辨率。

  • 如需扫描数据的Y轴分辨率与X轴分辨率一致，请通过编码器设置工具调节触发间隔（在此过程中可能需要调节触发信号计数模式的值）。

触发间隔

参数说明

设置扫描一行数据所需的触发信号个数。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • 值范围：1~65535

  • 默认值：

    • LNX-8030：2

    • LNX-8080：6

    • LNX-8300：13

调节说明

  • 该参数与触发信号计数模式共同决定触发扫描的频率。如触发扫描的频率大于轮廓测量仪的最大扫描速率，将导致部分数据丢失。请参考部分数据丢失解决该问题。

    在数据查看区右上角可确认轮廓测量仪当前的最大扫描速率。

  • 该参数与触发信号计数模式共同决定扫描数据的Y轴分辨率，进而影响扫描精度及强度图和深度图中目标物体的宽高比。详见扫描数据的Y轴分辨率。

  • 如需扫描数据的Y轴分辨率与X轴分辨率一致，请通过编码器设置工具调节触发间隔。

固定频率：触发频率

参数说明

当行扫描触发源为固定频率时，设置触发轮廓测量仪扫描的固定频率。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • 值范围：2Hz~当前最大扫描速率

    在数据查看区右上角可确认轮廓测量仪当前的最大扫描速率。

  • 默认值：1000Hz

调节说明

  • 该参数决定扫描数据的Y轴分辨率。请根据对Y轴分辨率的需求调节。

  • 如需扫描数据的Y轴分辨率与X轴分辨率一致，请根据以下公式计算合适的触发频率值：

    触发频率 = 目标物体相对轮廓测量仪的移动速度（μm/s） ÷ X轴分辨率

扫描设置

设置其他影响扫描过程的参数。

扫描行数

参数说明

设置生成一张强度图/深度图所需的轮廓行数。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • 值范围：16~20000

  • 默认值：5000

调节说明

应保证设置值可完整覆盖一个目标物体。可参考以下公式计算：

扫描行数 = 目标物体的长度（μm） ÷ 扫描数据的Y轴分辨率（μm）

设置值应略大于计算值。

超时时间

参数说明

设置数据采集的超时时间。触发数据采集后，如软件在设置的超时时间内没有接收到数据，将自动停止当前轮次的数据采集。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • 值范围：100~60000ms

  • 默认值：4000ms

调节说明

根据实际需求调节。

亮度调节

参数说明

调节强度图的亮度。该参数值越大，强度图的亮度越高。

可见级别

专家、大师

参数取值

  • 0.5×：将强度图亮度调节为初始亮度的0.5倍。

  • 0.75×：将强度图亮度调节为初始亮度的0.75倍。

  • 1×（默认值）：保持强度图初始亮度。

  • 1.5×：将强度图亮度调节为初始亮度的1.5倍。

  • 2×：将强度图亮度调节为初始亮度的2倍。

调节说明

  • 如需降低强度图的亮度，可将该参数调至0.5×或0.75×。

  • 如需提高强度图的亮度，可将该参数调至1.5×或2×。

其他条件完全相同，亮度调节不同的强度图如下所示：

亮度调节：0.5× 亮度调节：1× 亮度调节：2×

brightness adjustment 0.5

brightness adjustment 1

brightness adjustment 2

曝光延迟

参数说明

设置轮廓测量仪发射激光到开始曝光之间的延迟时间。

曝光延迟越大，原始图像中激光线的亮度越稳定，强度图和深度图质量越稳定，但将降低最大扫描速率。

可见级别

大师

参数取值

  • 值范围：1~2600μs

  • 默认值：5μs

调节说明

如获取的数据质量不稳定（如同一物体同一位置的深度值波动较大），可适当调大该参数的值。

点云分辨率

查看点云X轴分辨率和设置点云Y轴分辨率。

X轴分辨率

参数说明

显示X方向的分辨率，即激光线线长方向上相邻两点之间的距离。

该参数为只读参数，不可调节。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • LNX-8030：9.0μm

  • LNX-8080：23.5μm

  • LNX-8300：105.0μm

Y轴分辨率

参数说明

设置Y方向的分辨率，即目标物体运动方向上相邻两点之间的距离。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

  • 默认值：

    • LNX-8030：9.0μm

    • LNX-8080：23.5μm

    • LNX-8300：105.0μm

调节说明

该参数仅影响点云的Y轴分辨率。如点云中在Y轴上相邻两点的距离小于实际距离，请调大该参数；反之，请调小该参数。

其他条件完全相同，Y轴分辨率不同的点云对比图如下所示：

Y轴分辨率：12μm Y轴分辨率：23.5μm Y轴分辨率：35μm

y resolution 18

y resolution 23.5

y resolution 30

掩膜

参数说明

使用掩膜遮挡不需要的数据，如噪声、因多重反射产生的激光线等。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

启用掩膜：

  • True：应用已添加的掩膜。

  • False：不应用已添加的掩膜。

调节说明

双击编辑，打开掩膜工具窗口。详细操作说明见下方的使用掩膜工具。

使用掩膜工具

通过掩膜工具，可添加、编辑和删除掩膜。

添加掩膜

请执行以下步骤添加掩膜：

  1. 在左侧工具栏中选择合适的掩膜工具：

    • rectangle：用于添加矩形掩膜。

    • polygon：用于添加多边形掩膜。

  2. 在原始图像上确认需遮挡的数据位置，并绘制掩膜：

    • 矩形掩膜：按住鼠标左键并拖拽。

    • 多边形掩膜：单击鼠标左键添加多边形掩膜的顶点。添加完所需顶点后，按Enter键或单击鼠标右键完成绘制。

      多边形掩膜中，重叠的区域不生效：

      overlapped mask

      • 单击上方的重新采集，可以重新采集添加掩膜后的原始图像，确认遮挡效果。

      • 如掩膜的位置、形状或大小不合适，可编辑掩膜或删除掩膜。

  3. 所有掩膜添加完成后，单击应用，关闭当前窗口。

    单击应用后，启用掩膜参数的值将自动变为True。如不需要应用掩膜，请将该参数的值改为False。

编辑掩膜

如掩膜的位置、形状或大小不合适，请执行以下步骤编辑掩膜：

  1. 在左侧工具栏中单击 selection。

  2. 选中需编辑的掩膜后，进行所需的调节：

    • 移动掩膜位置：选中掩膜并拖拽。

    • 调整矩形掩膜的大小：选中矩形掩膜的一个顶点并拖拽。

    • 调整多边形掩膜的形状：

      • 移动已有顶点：选中多边形掩膜的一个顶点并拖拽。

      • 增加新顶点：在多边形掩膜的一个边上左键单击。

      • 删除已有顶点：选中多边形掩膜的一个顶点并右键单击。

        单击上方的重新采集，可以重新采集编辑掩膜后的原始图像，确认遮挡效果。

  3. 所有编辑完成后，单击应用，关闭当前窗口。

    单击应用后，启用掩膜参数的值将自动变为True。如不需要应用掩膜，请将该参数的值改为False。

删除掩膜

请执行以下步骤删除不合适的掩膜：

  1. 在右边栏的掩膜列表中选中需删除的掩膜，并单击 delete。

    如需删除所有掩膜，可单击掩膜列表右侧的清空。

  2. 在弹出的窗口中单击确定，删除掩膜。

    单击上方的重新采集，可以重新采集删除掩膜后的原始图像，确认遮挡效果。

  3. 删除完成后，单击应用，关闭当前窗口。

    单击应用后，启用掩膜参数的值将自动变为True。如不需要应用掩膜，请将该参数的值改为False。

校正

该分组中的参数用于校正轮廓线的倾斜角度和高度误差。

倾斜校正

参数说明

校正轮廓线的倾斜角度，该倾斜角度由轮廓测量仪绕Y轴的旋转导致。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

启用倾斜校正：

  • True：将倾斜校正结果应用至轮廓线。

  • False：不将倾斜校正结果应用至轮廓线。

倾斜校正角度：

  • 值范围：-90°~90°

  • 默认值：0°

调节说明

详细操作说明见下方的进行倾斜校正。

进行倾斜校正

该工具用于校正轮廓线的倾斜角度，该倾斜角度由轮廓测量仪绕Y轴的旋转导致。

如下图所示，轮廓测量仪绕Y轴的旋转，会导致采集的轮廓线的倾斜角度与实际不符。

无旋转

绕Y轴旋转

轮廓测量仪

camera horizontal line

camera tilt 1

camera tilt 2

采集的轮廓线

capture image 1

capture image 2

capture image 3
使用前提

进行倾斜校正需满足以下前提：

  • 推荐使用表面包含平整区域的目标物体。

  • 可采集到该平整区域较完整的轮廓线。如轮廓线不完整，请先参考轮廓模式调节其他参数。

  • 应保持目标物体相对轮廓测量仪静止不动，并采集目标物体上平整区域的轮廓线。

操作步骤

请执行以下步骤进行倾斜校正：

  1. 双击倾斜校正右侧的编辑，打开倾斜校正窗口。

  2. 选中检测区域并拖拽，调节检测区域的位置。调节时，应满足以下标准：

    两个检测区域框选的轮廓线，应对应目标物体上位于同一平面的两个位置。请参考以下示例：

    目标物体 tilt correction target object

    检测区域

    正确

    错误

    tilt correction detection areas 1

    tilt correction detection areas 4

    tilt correction detection areas 2

    tilt correction detection areas 3
    检测区域可以重叠。

  3. 选中检测区域后，拖拽其上的锚点，调节检测区域的宽度。调节时，请参考以下标准：

    在满足上一条标准的基础上，检测区域可以尽可能宽，以提供更多的数据用于倾斜校正。

  4. 在倾斜角度下的期望倾斜角度中，输入检测区域中的轮廓线在校正后应达到的角度。

    正值为逆时针旋转，负值为顺时针旋转。可输入的值范围为-45°~45°。
    期望倾斜角度的输入示例

    如下图所示的目标物体放置在水平面上：

    tilt target object angle

    检测区域位置不同时，应输入的期望倾斜角度如下：

    检测区域 期望倾斜角度

    tilt correction detection areas 1

    0°

    tilt correction detection areas 4

    30°

  5. 单击校正，左侧图像区中的绿线代表校正后旋转至期望倾斜角度的轮廓线。确认该轮廓线是否符合要求：

    • 如符合要求，单击应用，将应用倾斜校正结果并关闭当前窗口。

    • 如不符合要求，请重复步骤2至5。

  6. 在轮廓模式下重新采集数据，并切换至轮廓线，查看校正效果。

高度校正

参数说明

校正轮廓线中的高度误差，该误差由轮廓测量仪绕X轴的旋转导致。

可见级别

初级、专家、大师

参数取值

启用高度校正：

  • True：将高度校正结果应用至轮廓线。

  • False：不将高度校正结果应用至轮廓线。

高度校正比例：

  • 值范围：0.1~8.0

  • 默认值：1

调节说明

详细操作说明见下方的进行高度校正。

进行高度校正

该工具用于校正轮廓线中的高度误差，该误差由轮廓测量仪绕X轴的旋转导致。

如下图所示，轮廓测量仪绕X轴的旋转，会导致采集的轮廓线中两处的高度差与实际不符。

无旋转 绕X轴旋转

轮廓测量仪

profiler vertical

profiler leaning 1

采集的轮廓线

height correction profile 1

height correction profile 2
使用前提

进行高度校正需满足以下前提：

  • 推荐使用量块等尺寸已知且表面平整的目标物体，并将目标物体置于水平面上。

  • 可采集到目标物体较完整的轮廓线。如轮廓线不完整，请先参考轮廓模式调节其他参数。

  • 应保持目标物体相对轮廓测量仪静止不动。

  • 确定用于计算高度差的两个表面（如量块上表面和放置量块的水平面），并确定两个表面的实际高度差。

操作步骤

请执行以下步骤进行高度校正：

  1. 双击高度校正右侧的编辑，打开高度校正窗口。

  2. 选中检测区域并拖拽，调节检测区域的位置。调节时，应满足以下标准：

    两个检测区域框选的轮廓线，应分别对应用于计算高度差的两个表面。

    用于计算高度差的两个表面

    height correction target object

    检测区域

    正确

    错误

    height correction detection areas 1

    height correction detection areas 2

    height correction detection areas 3

  3. 选中检测区域后，拖拽其上的锚点，调节检测区域的宽度。调节时，请参考以下标准：

    在满足上一条标准的基础上，检测区域可以尽可能宽，以提供更多的数据用于高度校正。

  4. 在高度差下的实际高度差中，输入两个表面的实际高度差。

    实际高度差的最小值为0.01mm，最大值为轮廓测量仪的Z轴测量范围。

  5. 单击校正，左侧图像区中的绿线代表经高度校正后的轮廓线。确认该轮廓线是否符合要求：

    • 如符合要求，单击应用，将应用高度校正结果并关闭当前窗口。

    • 如不符合要求，请重复步骤2至5。

  6. 在轮廓模式下重新采集数据，并切换至轮廓线，查看校正效果。

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