点云深度波动

问题现象

采集的点云有深度波动。

可能原因

点云深度波动可能由以下原因造成:

  • 图像失焦。

    2D图 点云

    unfocus object

    unfocus cloud

  • 使用光亮的金属支架盛放目标物体,支架的反射光干扰了目标物体点云。

    2D图 点云

    reflective bracket object

    reflective bracket cloud

  • 目标物体表面光亮,且曝光时间长,导致3D数据过亮。

    2D图 点云

    overexposed area object

    fluctuation cloud

  • 工作环境的灯光频闪。

    点云

    flicker cloud

解决方案

点云深度波动可能由多个原因共同造成,请按照以下小节逐一排查上述可能原因。

图像失焦

请执行以下步骤排查问题:

  1. 在深度图查看像素点坐标Z值,与相机工作距离对比,判断目标物体是否在工作距离内。如目标物体不在相机工作距离内,请调整目标物体或相机位置。

  2. 单击数据采集区的single cap,采集一次数据,并查看点云。

    • 如点云完整,故障排查结束。

    • 如问题仍存在,请尝试其他小节中的解决方案。如仍无法解决问题,请联系技术支持。

3D数据过亮

请执行以下步骤排查问题:

  1. 请尝试以下解决方案:

  2. 单击数据采集区的single cap,采集一次数据,并查看点云。

    • 如点云完整,故障排查结束。

    • 如问题仍存在,请尝试其他小节中的解决方案。如仍无法解决问题,请联系技术支持。

光亮金属支架附近深度波动

请执行以下步骤排查问题:

  1. 请尝试以下解决方案:

    • 使用不易反光的黑布包裹支架。

    • 打磨支架,使支架表面不易反光。

    • 更换成不易反光的支架。

  2. 单击数据采集区的single cap,采集一次数据,并查看点云。

    • 如点云完整,故障排查结束。

    • 如问题仍存在,请尝试其他小节中的解决方案。如仍无法解决问题,请联系技术支持。

环境光频闪

请执行以下步骤排查问题:

  1. 如使用NANO、NANO ULTRA、Welding、PRO S或PRO M,可在3D参数分组的投影子分组中开启抗频闪模式

  2. 单击数据采集区的single cap,采集一次数据,并查看点云。

    • 如点云完整,故障排查结束。

    • 如问题仍存在,请尝试其他小节中的解决方案。如仍无法解决问题,请联系技术支持。

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