測定
データを処理した後、取得したピン先端のデータはすでに安定しています。これから、このデータを使用してピンの高さを測定することが可能になります。
測定の流れ
ピンの高さとは、ピン先端から基準面(プリント基板)までの距離です。したがって、ピン先端サーフェスの中心点から基準面までの距離を測定することで、ピンの高さを求めることができます。

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中心点を取得
サーフェスの特徴点の位置決め ステップを使用して高精度な位置決めの結果からピンの先端中心点(「特徴点」)を抽出し、ピン先端の位置を表します。
このステップの「特徴点のタイプ」パラメータを 平均値 に指定します。ステップを実行すると、各ピン先端の中心点が出力されます。
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基準面をフィット
平面度を測定 ステップを実行して基準面をフィットします。
特徴領域を追加することで平面のデータを指定し、下図のようにフィルタリングのパラメータを設定してノイズを除去します。すると安定的で正しい基準面が出てきます。
このステップの 出力欄 で 全体からフィットした平面 にチェックを入れます。ステップを実行すると、平面が出力されます。
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高さの差を測定
特徴による寸法測定 ステップでピンの高さを測定します。
このステップの 出力欄 で 距離 にチェックを入れます。ステップを実行し、各中心点から基準面の距離、すなわち各ピンの高さを出力します。
これで高精度なピン高さの測定が完了しました。
続いて、測定結果に基づいてピンの高さの合否を判定することができます。