測定開始
データを処理した後、取得したピン先端のデータすでに安定的になっています。続いては、取得したデータを使用しピンの高さを測定します。
測定の流れ
ピンの高さとは、ピン先端から基準面（プリント基板）までの距離です。従って、ピン先端サーフェスの中心点から基準面までの距離を測定すると、ピンの高さが分かります。
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中心点を取得する
サーフェスの特徴点の位置決めステップを使用して高精度な位置決めの結果からピンの先端中心点（「特徴点」）を抽出し、ピン先端の位置を表します。
このステップの「特徴点のタイプ」パラメータを平均値に指定します。ステップを実行すれば各ピン先端の中心点が出力されます。
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基準面をフィットする
平面度を測定ステップを実行して基準面をフィットします。
特徴領域を追加することで平面のデータを指定し、下図のようにフィルタリングのパラメータを設定してノイズを除去します。すると安定的で正しい基準面が出てきます。
このステップの輸出パネルで全体からフィットした平面をチェックします。ステップを実行すれば平面が出力されます。
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高さの差を測定する
特徴による寸法測定ステップでピンの高さを測定します。
このステップの輸出パネルで距離をチェックします。ステップを実行し、各中心点から基準面の距離、すなわち各ピンの高さを出力します。
これで高精度なピン高さ測定を完了させました。
続いては、測定の結果に基づいてピンの高さの合否を判定することができます。