测量点到基准线高度差

此步骤用来计算点到基准线的高度差。

在开始了解此步骤之前，请先查阅 开始使用测量模式 中的内容。

应用示例

组合 读取点云 、 正交投影 、测量点到基准线高度差 三个步骤，来完成 点 到 基准线 的高度差测量。

步骤连线：

1. 单击 正交投影 ，在 步骤输入端口选择 窗口， 将 “输入1（带法向点云）” 的下拉栏设置为　“读取点云_1_带法向点云” 。

2. 单击 测量点到基准线高度差 ，在 步骤输入端口选择 窗口 ，将 “输入1（可视化背景）” 的下拉栏设置为 “正交投影_1_深度图”。

参数设置：

• 读取点云 设置：

  单击此步骤，在 步骤参数 窗口中设置待测量物体的点云文件路径等参数（用户需准备待测量物体的点云）。完成设置后，单击 运行 来运行工程。

• 测量点到基准线高度差 设置：

  基准线设置：

  基准线初始位置位于画板图像左上角，移动并调整基准线到用户自定义位置。

  

  在 步骤参数 窗口中，可以微调基准线的位置，如下图：

  

  检测点设置：

  点击 + 来添加检测点，可添加一个或多个点，如下图：

  

  添加后的检测点位于画板图像的左上方，移动检测点到用户自定义位置，如下图：

  

  在 步骤参数 窗口中，可以微调检测点的位置，如下图：

  

结果查看：

在 测量结果输出 窗口中，将显示点到基线的高度差，如下图：

注解

若添加多个检测点，将有多个测量结果。

用户可以在 测量结果输出 窗口，或 结果视图 中设置上、下限值，来查看测量值是否合格。